HCDL8400变频介质损耗测试仪

HCDL8400变频介质损耗测试仪

产品简介：

介质损耗测试仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出

技术参数：

◆准确度：

Cx:±（读数×1%+1pF）

tgδ:±（读数×1%+0.00040）

◆抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度

◆电容量范围：

内施高压：3pF~60000pF/10kV 60pF~1.2μF/0.5kV

外施高压：3pF~1.5μF/10kV      60pF~30μF/0.5kV

分辨率：最高0.001pF，4位有效数字

◆tgδ范围：不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。

◆试验电流范围：10μA~5A

◆内施高压：设定电压范围：0.5~10kV

最大输出电流：200mA

升降压方式：连续平滑调节

电压精度：±(1.5%×读数+10V)

电压分辨率：1V

◆试验频率：45~65Hz整数频率

49/51Hz、45/55Hz自动双变频

频率精度：±0.01Hz

◆外施高压：正接线时最大试验电流1A / 40~70Hz

反接线时最大试验电流10kV / 1A / 40~70Hz

◆CVT自激法低压输出：输出电压3~50V，输出电流3~30A

◆测量时间：约30s，与测量方式有关

◆输入电源：180V~270VAC，50Hz/60Hz±1%，市电或发电机供电

◆计算机接口：标准RS232接口

◆打印机：自带微型热敏打印机

◆环境温度：-10℃~50℃

◆相对湿度：<90%，不结露